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==<!--13.2-->Prüfung von Kontaktschichten==
Für Anwendungen bei geringen Schaltlasten kommen häufig Kontaktschichten
Verschleißes auftreten können (<xr id="fig:Porosity of an electroplated hard gold layer"/><!--(Fig. 13.1)-->).
<figure id="fig:Porosity of an electroplated hard gold layer">
[[File:Porosity of an electroplated hard gold layer.jpg|right|thumb|Figure 1: Porosität einer galvanisch aufgebrachten Hartgoldschicht in Abhängigkeit von der Schichtdicke s bei unterschiedlicher Rauhigkeit R<sub>a</sub> der Unterlage]]
</figure>
An den Porenfußpunkten ist das darunter liegende Material der umgebenden
Farbstellen sichtbar.
Häufig wird ein SO <sub>2</sub>-Test hoher Konzentration (100 ppm) und hoher relativer 2
Luftfeuchte (95% bei 40°C) angewandt. Ein wesentlicher Vorteil bei diesem Test
ist, dass sich der Schärfegrad durch Änderung der Konzentration leicht reproduzierbar
mit entsprechenden Auswerteeinrichtungen eingesetzt (<xr id="fig:Computer controlled contact resistance measuring device"/><!--(Fig. 13.2)-->). Dabei wird die Oberfläche der Kontaktschicht nach einem vorgegebenen Programm abgerastert.
Als Gegenkontakt wird meist ein vorher sorgfältig gereinigter Kontaktniet mit Hartgoldbeschichtung verwendet.
Messspannung und Messtrom liegen meist bei <20 mV bzw. <10 mA (Gleichstrom
oder Wechselstrom 1kHz). Die Kontaktkraft wird je nach Anwendung der
Zusammensetzung der Fremdschicht können nur durch oberflächenanalytische
Verfahren bestimmt werden.
<div class="multiple-images">
<figure id="fig:Computer controlled contact resistance measuring device">
[[File:Computer controlled contact resistance measuring device.jpg|right|thumb|Figure 2: Rechnergesteuerter Prüfstand für Kontaktwiderstandsmessung (WSK Messtechnik)]]
</figure>
<figure id="fig:Frequency distribution of the contact resistance of a clean contact surface">
[[File:Frequency distribution of the contact resistance of a clean contact surface.jpg|right|thumb|Figure 3: Häufigkeitsverteilung des Kontaktwiderstandes einer sauberen Kontaktoberfläche (Ag - Niet mit galvanisch aufgebrachter Feingoldschicht; Messbedingungen: 10 mV; 10 mA; 10 cN)]]
</figure>
<figure id="fig:Frequency distribution of the contact resistance of a contaminated contact surface">
[[File:Frequency distribution of the contact resistance of a contaminated contact surface.jpg|right|thumb|Figure 4: Häufigkeitsverteilung des Kontaktwiderstandes einer verunreinigten Kontaktoberfläche ( Ag - Niet mit galvanisch aufgebrachter Hartgoldschicht; Messbedingungen: 10 mV; 10 mA; 10 cN)]]
</figure>
</div><div class="clear"></div>
===<!--13.2.3-->Technologische Eigenschaften===